Österreichische Baunormen
Normdatenbank:
Dokumenten Nummer:
ÖNORM EN ISO 9220
Klassifikation:
ST*N
Preisgruppe:
FM=14
Bezeichnung:
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:1988)
zitierte Normen:
II=ISO 9220 (1988) ,IDT*EN ISO 9220 (1994 10) ,IDT
ersetzte Normen:
RX=ÖNORM EN ISO 9220 (2022 06 01)*ÖNORM EN ISO 9220 (2022 06 01)
identische Norm:
AS=
Registriert als:
AD=Diese Internationale Norm legt ein Verfahren zur Messung der örtlichen Dicke metallischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Es handelt sich um ein zerstörendes Verfahren, das eine Meßunsich
Autor:
Komitee 050 Beschichtungsstoffe
Referenz:
PQ=Preisgruppe 12
übersetzt in:
de*en
english text:
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO 9220:1988)
Description:
CT=Metallüberzug*Beschichtung*Überzug*Dickenmessung*Messung*Dicke*Prüfung*Prüfverfahren*Meßverfahren*Elektronenmikroskop*Begriffe*Terminologie*Prüfgerät*Prüfbericht*Kalibrierung*Rasterelektronenmikroskop*Messverfahren
francoise:
Revetements métalliques - Mesurage de l'épaisseur de revetement - Méthode au microscope électronique à balayage (ISO 9220:1988)
Normdatenbank:
Dokumenten Nummer:
ÖNORM EN ISO 9220
Klassifikation:
ST*N
Preisgruppe:
FM=19
Bezeichnung:
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO 9220:2022)
zitierte Normen:
II=ISO 9220:2022 (2022) ,IDT*EN ISO 9220 (2022 02) ,IDT
ersetzte Normen:
RX=
identische Norm:
AS=
Registriert als:
AD=Dieses Dokument legt ein zerstörendes Verfahren zur Messung der örtlichen Schichtdicke metallischer und anderer anorganischer Überzüge fest, in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht werden. Das Verfahren ist für Schicht
Autor:
Komitee 050 Beschichtungsstoffe
Referenz:
PQ=Preisgruppe 15
übersetzt in:
de*en
english text:
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO 9220:2022)
Description:
CT=Metallüberzug*Schichtdickenmessung*Materialprüfung*Beschichtung*Messung*Überzug*Schichtdicke*Prüfverfahren*Prüfung*mikroskopische Untersuchung*Rasterelektronenmikroskop*Begriffe*Bestimmung*Lichtmikroskop*Definition*Dickenmessung*Dicke*Dimensionsmessung*Me
francoise:
Revêtements métalliques - Mesurage de l'épaisseur de revêtement - Méthode au microscope électronique à balayage (ISO 9220:2022)
Normdatenbank:
Dokumenten Nummer:
ÖNORM EN ISO 9220
Klassifikation:
DC*N-E
Preisgruppe:
FM=19
Bezeichnung:
Metallische Überzüge - Messung der Schichtdicke - Verfahren mit Rasterelektronenmikroskop (ISO/DIS 9220:2021)
zitierte Normen:
II=EN ISO 9220 (2021 03) ,IDT*ISO 9220 (2021 03) ,IDT
ersetzte Normen:
RX=ÖNORM EN ISO 9220 (2022 06 01)
identische Norm:
AS=
Registriert als:
AD=Dieses Dokument legt ein zerstörendes Verfahren zur Messung der örtlichen Schichtdicke metallischer Überzüge fest (nachstehend sind auch andere anorganische Überzüge gemeint), in dem Querschnitte mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) untersucht we
Autor:
Komitee 050 Beschichtungsstoffe
Referenz:
PQ=Preisgruppe 11
übersetzt in:
de*en
english text:
Metallic coatings - Measurement of coating thickness - Scanning electron microscope method (ISO/DIS 9220:2021)
Description:
CT=Metallüberzug*Beschichtung*Überzug*Dickenmessung*Messung*Dicke*Prüfung*Prüfverfahren*Meßverfahren*Elektronenmikroskop*Begriffe*Terminologie*Prüfgerät*Prüfbericht*Kalibrierung*Rasterelektronenmikroskop
francoise:
Revêtements métalliques - Mesurage de l'épaisseur de revêtement - Méthode au microscope électronique à balayage (ISO/DIS 9220:2021)